主　　　旨：检送本司办理「Light Scattering Measurement Technology Seminar高分子球晶&相构造解析、界达电位、奈米粒径分析 光散射量测技术研讨会」报名表乙份，请查照。

说　　　明：
　一、办理时间：(新竹场)108年5月14日(二)上午9点至16点30分。(高雄场)108年5月16日(四)上午9点至16点30分
　二、地点：(新竹场)工研院中兴院区77馆101-102会议室，(高雄场)高雄国际会议中心ICCK 605会议厅
　三、课程目标：
　　(一)日本光学大厂大冢电子进行新产品说明会：最新发表高分子相解析系统(PP1000)，以小角光散射法动态解析高分子构造，可量测目前普遍X射线或中性子射线所无法测量的较大的高分子构造(等级)。掌握结晶速度、球晶径、光学异方性等等等高分子不可不知道的性质。
　　(二)带您深入浅出了解奈米粒径及界达电位的理论基础以及实际应用：特邀日本讲师来台，三十年间不间断量测各大领域的各种样品，见证日本产业的最新发展。针对您粒子的聚集分散问题，以及各种应用做详细介绍。(现场有同步翻译)
　　(三)奈米粒径—便利的无污染一键多检体量二则，不透光样品原液测量。
　　(四)界达电位─从液态溶液到固态板状样品，从稀溶液到不透光浓溶液，从无极性有机溶剂到高盐浓度样品。
　四、报名费用：免费。
　五、报名方式：
　　(一)传真报名：填妥报名表，新竹场传真至035820237，高雄场传真至07716-1180即完成报名
　　(二)亲自报名：高雄场至辛耘企业高雄市前镇区二圣一路290号9楼之1，周一至周五09：00-17：003
　　(三)E-mall报名：高雄场填妥报名表，回传mila.ma@scientech.com.tw