主 旨:檢送本司辦理「Light Scattering Measurement Technology Seminar高分子球晶&相構造解析、界達電位、奈米粒徑分析 光散射量測技術研討會」報名表乙份,請查照。
說 明:
一、辦理時間:(新竹場)108年5月14日(二)上午9點至16點30分。(高雄場)108年5月16日(四)上午9點至16點30分
二、地點:(新竹場)工研院中興院區77館101-102會議室,(高雄場)高雄國際會議中心ICCK 605會議廳
三、課程目標:
(一)日本光學大廠大塚電子進行新產品說明會:最新發表高分子相解析系統(PP1000),以小角光散射法動態解析高分子構造,可量測目前普遍X射線或中性子射線所無法測量的較大的高分子構造(等級)。掌握結晶速度、球晶徑、光學異方性等等等高分子不可不知道的性質。
(二)帶您深入淺出了解奈米粒徑及界達電位的理論基礎以及實際應用:特邀日本講師來台,三十年間不間斷量測各大領域的各種樣品,見證日本產業的最新發展。針對您粒子的聚集分散問題,以及各種應用做詳細介紹。(現場有同步翻譯)
(三)奈米粒徑—便利的無汙染一鍵多檢體量二則,不透光樣品原液測量。
(四)界達電位─從液態溶液到固態板狀樣品,從稀溶液到不透光濃溶液,從無極性有機溶劑到高鹽濃度樣品。
四、報名費用:免費。
五、報名方式:
(一)傳真報名:填妥報名表,新竹場傳真至035820237,高雄場傳真至07716-1180即完成報名
(二)親自報名:高雄場至辛耘企業高雄市前鎮區二聖一路290號9樓之1,週一至週五09:00-17:003
(三)E-mall報名:高雄場填妥報名表,回傳mila.ma@scientech.com.tw
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